ScienceSeiten: 612-623, Sprache: DeutschBaltzer, Andres/Kaufmann-Jinoian, VanikDa die Passgenauigkeit eines submucosal liegenden Kronenrandes auf einem Implantat für die Prognose der Rekonstruktion einen sehr wichtigen Faktor darstellt, können Diskrepanzen und Unregelmäßigkeiten beim Übergang am Kronenrand Plaqueakkumulationen verursachen und eine Periimplantitis auslösen, die schließlich zum frühzeitigen Verlust des Implantates führt.
Die Autoren zeigen auf, wie mit CEREC inLab Kronenkappen für Implantate hergestellt werden können, deren Randpassungen wesentlich besser sind als die labortechnisch gefertigter Kappen, wobei eine kleine Nachbearbeitung mit einem speziellen Aufpassgerät am Kappenrand allerdings erforderlich ist.
Schlagwörter: CEREC, CAD/CAM, Implantatkronen, Randpassungen, Vollkeramik