Nickel-Titan-Feilen unterliegen sowohl im Herstellungsprozess als auch in der klinischen Anwendung einem kontinuierlichen Verschleiß, sodass im Einzelfall im Verlauf einer Wurzelkanalbehandlung die Fraktur eines Wurzelkanalinstruments auftreten kann. Welche konkreten Bedingungen vorlagen, die zur Fraktur führten, lässt sich mit Hilfe der intrakoronalen Befundaufnahme und Diagnostik abschätzen. Mit dem Raster-Elektronenmikroskop können weitere ursächliche Faktoren ermittelt und Vorschläge zur Minimierung des Frakturrisikos erarbeitet werden. Im präsentierten Fall waren herstellungsbedingte Mängel wie beispielsweise die unvollständige Beschichtung der Feile mit Titannitrit (TiN) nicht die Ursache der Fraktur des Wurzelkanalinstruments, sondern eine Kombination aus Torsions- und Biegeermüdung der Legierung. Anatomische Bedingungen begünstigten eine Überbelastung der mehrfach genutzten Feile. Schlagwörter: Fragment, Fragmententfernung, Rasterelektronenmikroskop, Titannitrit, Nickel-Titan