Es wurde der Einfluss zweier Polymerisationslampen mit unterschiedlicher Arbeitsweise auf die Werkstoffeigenschaften von vier Kompositmaterialien untersucht. Verglichen wurde das Plasmalichtgerät Apollo 95 E (DMD, Marburg) mit dem Halogenpolymerisationsgerät Elipar Visio (Espe, Seefeld). Als Untersuchungsparameter dienten Biegefestigkeit, E-Modul, Scherhaftfestigkeit, Polymerisationstiefe sowie der Konversionsgrad (Anteil an Restdoppelbindungen). Als Komposite wurden Tetric, Herculite XRV, Arabesk Top und Pertac II mit den jeweils dazugehörigen Dentinadhäsivsystemen verwendet. Die Ergebnisse zeigten, dass nach der Polymerisation mit Apollo 95 E Biegefestigkeit, E-Modul und Scherhaftfestigkeit im Vergleich zu Elipar Visio niedriger waren. Ebenso war die Durchhärtungstiefe bei den Kompositen nach der Polymerisation mit Apollo 95 E geringer als in der Vergleichsgruppe. Die Testgruppe Herculite XRV zeigte nach Polymerisation mit der Apollo 95 E nach 3s Bestrahlungszeit einen Restdoppelbindungsgehalt von 39,8% (nach 6s 38,5%), wogegen das mit der Halogenlampe in 20s ausgehärtete Komposit einen Restdoppelbindungsgehalt von 34,8% (32,8% nach 40s) aufwies. Die Polymerisation der in dieser Studie verwendeten Komposite mit der Plasmalichtquelle Apollo 95 E erbrachte im Vergleich zu einem herkömmlichen Polymerisationsgerät bei allen untersuchten Werkstoffparametern schlechtere Ergebnisse.